TED (Tenders Electronic Daily)1d left · 14 Jun 2026
Portugal – Scanning electron microscopes – Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
Universidade de Aveiro
Est. value
£600,000
Deadline
14 Jun 2026
Published
18 May 2026
Region
PT16D
Description
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
CPV codes
Scanning electron microscopes
Source: View original notice
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